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晶片/外延片/襯底片測量設備首頁 > 產品中心 / Products

方塊電阻自動測試機

半導體材料的薄膜電阻,是判斷材料摻雜濃度的一個主要參數。本設備采用非接觸方法,采用渦流技術,測量晶片上指定位置的薄膜電阻,并形成Mapping圖。...

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外延片PL譜掃描成像儀

外延片PL譜掃描成像儀可在線快速檢測外延片的PL數據,生成高分...

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晶片厚度翹曲度自動測量解決方案

讓設備配置更符合您的需求,不為用不上的功能、性能買單,只為實際所需付費,您需要定制化的服務和產品,請交給我們來做! 我們可根據您的要求為您提供定制化設計的晶片...

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晶片膜厚自動測量及分類機

可用于半導體制造(非晶多晶硅、多孔硅、光刻膠、氮化物、氧化物等)、液晶顯示(聚酰亞胺、導電透明膜)、光學涂層(硬涂層、抗反射涂層)、玻璃和塑料厚度、硬涂層厚度、...

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晶片自動分類及OCR識讀機

設備可自動從客戶MES系統獲得原始數據,根據相關指標進行重新分類或挑片,分類的同時對晶片上的SEMI字體刻號進行識別、驗證,設備分類及OCR識別后,自動將MES...

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PSS襯底片反射率測量及分類機

PSS襯底片反射率測量及分類機可在線快速檢測PSS襯底片刻蝕前和刻蝕后的反射率(PR)數據...

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